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              阻抗分析仪

              阻抗分析仪

              产品型号: TH2828S

              所属分类:同惠元件参数测试仪器

              产品时间:2024-05-09

              简要描述:阻抗分析仪TH2828S,基本精度:0.05%;20Hz-1MHz连续频率;LCD显示;四端对测试端口,TH2828SY已经停产,用TH2838H替代.

              详细说明:

              阻抗分析仪TH2828S,基本精度:0.05%;20Hz-1MHz连续频率;LCD显示;四端对测试端口,TH2828SY已经停产,用TH2838H替代.

              TH2838H简介:http://www.szdj17。。net/szdj17-Products-34686587/

              TH2828/TH2828A/TH2828S是采用自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器,其0.05%的基本精度、20Hz—1MHz的频率范围及高达100MΩ的阻抗测试范围可以满足元件与材料的一切测量要求,特别有利于测量低D电容器和高Q电感器的测量。其支持20V交流测试信号和40V直流偏置的高功率测试条件及列表扫描能力将有利于用户扩展元件评价的能力。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响,将低阻抗测试能力的下限比常规五端配置的仪器向下扩展了十倍。TH2828/TH2828A/TH2828S是电子元器件设计、检验、质量控制和生产测试的强有力工具。它的优良性能和功能为电路的设计和开发以及材料(电子材料和非电子材料)的研究和开发提供了强有力的工具。TH2828/TH2828A/TH2828S以其性能可以实现商业标准和军用标准如IEC和MIL标准的各种测试。
               

              阻抗分析仪TH2828S 

              性能特点
              阻抗测量范围宽的自动平衡电桥技术
              四端对端口配置有效消除测试线电磁
              基本准确度0.05%
              高达1MHz的测量频率范围
              交流测试信号可编程至20V(选件)
              高达30次/秒的测量速度
              六位读数分辨率
              可测量22种阻抗参数组合
              30 Ω, 100 Ω可选信号源输出阻抗
              10点列表扫描测试功能
              曲线扫描分析功能(仅TH2828S)
              内部可编程直流偏置±40V/100mA(选件)
              外置偏流源至40A
              电压或电流的自动电平调整(ALC)功能
              V、I测试信号电平监视功能
              20组内部仪器设定可供储存/读取
              内建比较器,10档分选及计数功能
              RS232C,GPIB,HANDLER接口
              2m/4m测试电缆扩展(选件)
              USB接口供数据外存(TH2828A无)
              320×240点阵大型图形LCD显示
              中英文可选操作界面

               

              阻抗分析仪TH2828S

              • 应用
              • 无源元件

                  电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。

                半导体元件

                  LED驱动集成电路寄生参数测试分析;变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析

                其它元件

                  印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估

                介质材料

                  塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估

                磁性材料

                  铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

                半导体材料

                  半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性液晶材料:

                液晶单元

                  介电常数、弹性常数等C-V特性

               

               

               

               

               

               

               

               

               

               

               

               

               

               

               

               

               

               

              LCR自动平衡测试理论是美国HP公司一九八几年提出来的,这是全*好测试方法。自动平衡保证全频段测试的精度:

              普通电桥是使用运放采样信号,运放缺点输入端有偏置电流,流过被测件跟流过采样电阻的电流不一致,电流的误差是取消不了的,清零是没用的。

              自动平衡不采用运放, 而采用FPGA加高速ADC采样,另外做了一个信号源同时加在被测件上,来抵消普通LCR这种误差,用这种方法能保证更高的测试精度跟测试范围。

              目前市面上只有同惠的LCR采用自动平衡测试原理。

               

               

               

               

               

               

               

               

               

               

               

               

               

               



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