<ins id="rrrvj"></ins><ol id="rrrvj"></ol>

            <ol id="rrrvj"><sub id="rrrvj"></sub></ol>
            <ins id="rrrvj"><sub id="rrrvj"><p id="rrrvj"></p></sub></ins><ol id="rrrvj"><sub id="rrrvj"><video id="rrrvj"></video></sub></ol>
            <ol id="rrrvj"></ol>

              <ol id="rrrvj"><sub id="rrrvj"><p id="rrrvj"></p></sub></ol>

              欢迎进入苏州德计仪器仪表有限公司网站! 固话:0512-68790450 手机:13915418480 返回首页 | 联系我们
              大家都在搜: 固纬安规测试仪,固纬耐压测试仪,固纬LCR测试仪
              产品中心/ product center 您的位置:网站首页 > 产品中心 > 同惠电子TONGHUI > 同惠元件参数测试仪器 > TH2829A自动元件分析仪
              自动元件分析仪

              自动元件分析仪

              产品型号: TH2829A

              所属分类:同惠元件参数测试仪器

              产品时间:2024-05-09

              简要描述:自动元件分析仪TH2829A ,基本精度:0.05%;20Hz-300KHz连续频率;电平5mV—10Vrms,独立电源;四参数显示;曲线扫描.

              详细说明:

              自动元件分析仪TH2829A ,基本精度:0.05%;20Hz-300KHz连续频率;电平5mV—10Vrms,独立电源;四参数显示;曲线扫描.

              TH2829系列自动元件分析仪应用高速处理器和新的软件系统,使其拥有更高的测试速度、更全面的分析功能和友好的人机交互体验。精心设计的测量电路和优化的算法,进一步提升了低D值电容和高Q值电感的测试稳定性。仪器提供的10V交流测试电平、10V/100mA偏置电源和独立的10V/50mA DC电源,使本仪器可更方便地应用于各种无源/有源器件的测试。双主副参数显示、增强的显示系统设计、多达150点的列表扫描、多种参数的图形分析能力,使仪器能满足用户多的应用需求。得益于新一代处理器的应用,使仪器具有了更强大的数据处理能力,可将测试结果方便地存储于U盘或通过多种接口上传至上位PC或网络,推进测试自动化,提高测试效率。本机测试频率为:20Hz-1MHz。具有0.05%的测试准确度、9ms/次的高测试速度。仪器配有HANDLER、USB、LAN、RS232C 、DCI、GPIB(选配)等丰富的接口,无不彰显丰富的资源,将带给客户较好的性价比体验。TH2829系列元件分析仪可*适用于各种工业和军用标准的测试要求。

               

               自动元件分析仪TH2829A

              • 应用
              • 无源元件

                 电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析

                半导体元件

                 LED驱动集成电路寄生参数测试分析;变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析

                其它元件

                 印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估

                 

                介质材料

                 塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估

                磁性材料

                 铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

                半导体材料

                 半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

                液晶单元

                 介电常数、弹性常数等C-V特性

               

               

               

               

               

               

               

               

               

               

               

               

               

               

               

               

               

               

              LCR自动平衡测试理论是美国HP公司一九八几年提出来的,这是全*好测试方法。自动平衡保证全频段测试的精度:

              普通电桥是使用运放采样信号,运放缺点输入端有偏置电流,流过被测件跟流过采样电阻的电流不一致,电流的误差是取消不了的,清零是没用的。

              自动平衡不采用运放, 而采用FPGA加高速ADC采样,另外做了一个信号源同时加在被测件上,来抵消普通LCR这种误差,用这种方法能保证更高的测试精度跟测试范围。

              目前市面上只有同惠的LCR采用自动平衡测试原理。

               

               

               

               

               

               

               

               

               

               

               

               

               

               



              留言框

              • 产品:

              • 您的单位:

              • 您的姓名:

              • 联系电话:

              • 常用邮箱:

              • 省份:

              • 详细地址:

              • 补充说明:

              • 验证码:

                请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

              在线客服 二维码

              扫一扫,关注我们

              国产精品揄拍100视频 <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <文本链> <文本链> <文本链> <文本链> <文本链> <文本链>